計測機器／計測システム
ブルカージャパン株式会社（ナノ表面計測事業部） -Bruker Japan K.K.-
| 社名 | ブルカージャパン株式会社（ナノ表面計測事業部） |
|---|---|
| 社名英文表記 | Bruker Japan K.K. |
| 創業 | - |
| 資本金 | 4億8,000万円 ※払込み資本 |
| 本社所在地 |
104-0033 東京都中央区新川1丁目4番1号 住友不動産 六甲ビル1F |
| 代表者 | - |
| 従業員数 | - |
| 事業内容 | □ナノ表面計測事業部 ナノスケール・原子スケールにおける高分解による材料表面形状観察、粗さ測定、更には微細機械特性等が可能な高性能原子間力顕微鏡（AFM）や、高速・非破壊による精密粗さ計測が可能な白色光干渉型顕微鏡の販売・アフターサービスにより、大学・官公庁から企業製造工場まで最先端技術を必要とする研究開発・品質管理に幅広いソリューションを提供。 今後の豊かな社会に不可欠なナノテクノロジーの発展に深く貢献 |
| 売上 | - |
| 公式サイト | https://www.bruker-nano.jp/ |
| 採用サイト | https://www.bruker-nano.jp/career-opportunities-top |
